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FPD 검사기

BP Macro AOI

본 장비는 OLED 제조 공정 중 Photo, 세정, P.I 인쇄 등 다양한 공정에서 발생하는 얼룩불량을 검사하는 장비로 엔지온 시스템만의 독특한 광학계를 이용하여 미약한 얼룩을 검출 / 분류할 수 있는 설비입니다.

■ 시스템 사양

 

검출 Defect Mura(원형,가로,세로,사선 Mura검출가능)
Glass Size 세대별 Glass대응 가능
Camera/Lens Line Scan Camera /가변 Lens
해상도 100um~200um(요구사양에 맞게 대응)
조명 LED bar 조명

 

■ 시스템 특징

  • Inline / Stand Alone 등 다양한 형태로 대응
  • Air Floating Stage 적용으로 반송 안정성 확보
  • 카메라 및 조명의 광학 조건(각도와 높이)자동 설정 기능
  • 얼룩의 시인성을 향상시킨 독창적인 광학구조 적용
  • A.I 기반의 자동 분류 및 Auto Recipe SW 탑재

 

■ 적용분야

  • LCD 제조공정 : TFT, CF, P.I 등
  • OLED 제조공정 : BP, EVEN, TSP(OCTA), CF 등

 

■ 검출불량 대표 Image